SIM卡座，板對板，PCIE連接器的使用壽命是衡量連接器性能可靠性的首要指標，隨著人們對電子產品無故障工作性能的要求下斷增強,連接器設計中提高使用壽命成為一種設計導問。此外,市場競爭的加劇也要求設計人員在非昂貴合金中尋描適宜的材料以降低連接器的成本。在許多情況下,這些趨勢的綜合結果會使連接器的銅合金的工作特性更接近其性能極限。
初始接觸力是連接器設計和材料特性的一個重要因素。由于在接觸件中,彈性變形能夠轉換成塑性變形,故應力釋放會導致接觸力的咸小。如果接觸力比某一臨界水平低,那么接觸件會出現(xiàn)功能失效。因此,預測作為時間和溫度相關函數(shù)的應力釋放自然就會成為確保連接器可靠性最關鍵的因素；應力釋放測試預測連接器使用壽命的相關問題如下。

應力釋放數(shù)據(jù)是設計人員預測電子連接器使用壽命的一個有效工具,可以根據(jù)現(xiàn)有數(shù)據(jù)對接觸材料的選擇作出決策。而且這些數(shù)據(jù)如今已經(jīng)廣泛地應用于計算機、通信和汽車電子工業(yè)上。如今有關產品的壽命周期的數(shù)據(jù)是非常缺乏的,尤其在計算機領域上。當然,它還是縮短產品開支周期和有效期的一個更為有用的數(shù)據(jù)。